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长禾 | |
陕西西安 |
西安长禾半导体技术有限公司功率器件测试实验室(简称长禾实验室)位于西安市高新技术经济开发区,是一家从事功率半导体器件测试服务的高新技术企业,是国家CNAS 认可实验室,属于国家大功率器件测试服务商。
长禾实验室拥有的系统设备、的技术团队和完善的服务体系。实验室现有的测试仪器设备100余台套,测试人员20余名。我们紧跟国内标准,以客户需求为导向,不断服务项目和检测技术,借助便利的服务网络,为合作伙伴提供的技术服务。
长禾实验室专注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等领域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位、院所、工业控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽车等行业。也是三代半导体(宽禁带半导体)应用解决方案服务商。
晶体管 | 1 | 直流增益 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3076.1 | 只测: 1~50000 |
2 | 集射极饱和压降 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3071 | 只测: 0~1250A | |
3 | 集射电极关态电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3041.1 | 只测: 0~100mA | |
4 | 集基电极关态电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3036.1 | 只测: 0~100mA | |
5 | 射基极关态电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3061.1 | 只测: 0~100mA | |
6 | 集射极反向击穿电压 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3011.2 | 只测: -3.5kV~3.5kV | |
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 3011 | 只测: -3.5kV~3.5kV | |||
7 | 集基极反向击穿电压 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3001.1 | 只测: -3.5kV~3.5kV | |
8 | 射基极反向击穿电压 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3026.1 | 只测: -3.5kV~3.5kV | |
9 | 基射极电压 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3066.1 | 只测: 0V~1250A | |
10 | 稳态热阻 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3131.6 | 只测: Ph:0.1W~250W |
西安长禾半导体技术有限公司 | |
蒲经理 |
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