西安长禾半导体技术有限公司

元器件制造销售检测,技术服务,检测测试,技术推广转让

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SiC/GaN功率器件动态测试服务

发布者:蒲经理 | 来源:西安长禾半导体技术有限公司发布时间:2024-04-23
产品单价
面议
起订量
1个
供货总量
不限量
发货期限
自买家付款之日起3天内发货
品牌
长禾
产地
陕西西安

西安长禾半导体技术有限公司功率器件测试实验室(简称长禾实验室)位于西安市高新技术经济开发区,是一家从事功率半导体器件测试服务的高新技术企业,是国家CNAS 认可实验室,属于国家大功率器件测试服务商。

长禾实验室拥有的系统设备、的技术团队和完善的服务体系。实验室现有的测试仪器设备100余台套,测试人员20余名。我们紧跟国内标准,以客户需求为导向,不断服务项目和检测技术,借助便利的服务网络,为合作伙伴提供的技术服务。

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长禾实验室专注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等领域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位、院所、工业控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽车等行业。也是三代半导体(宽禁带半导体)应用解决方案服务商。

长禾实验室秉承务实的经营理念,为客户提供的服务、完善的解决方案及的技术支持;同时注重与行业企业、高校和科研院所的合作与交流,测试技术与服务水平不断提升。

诚信立世,感恩回馈,欢迎选择长禾实验室做您忠诚的合作伙伴,共谋发展大计!

二极管1反向漏电流半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4016.4只测: 0~100mA
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4016只测: 0~100mA
2反向击穿电压半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4021.2只测: 0~3.5kV
3正向压降半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4011.4只测: IS:0A~6000A
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4011只测: IS:0A~6000A
4浪涌电流半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4066只测: If:0A~9000A
5反向恢复电荷半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3473.1只测: 1nC~100µC
反向恢复时间半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3473.1只测: 10ns~2us
6二极管反压变化率半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3476只测: VR:5V~3300V, IF:1A~1500A
7单脉冲雪崩能量半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4064只测: L:0.01mH~159.9mH, IAS:0.1A~1500A
稳态热阻半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3136只测: Ph:0.1W~80W
8总电容电荷半导体器件 分立器件和集成电路 2部分:整流二极管 IEC 60747-2:2016 6.1.8只测: -3kV~3kV,0~1MHz
9结电容半导体器件 分立器件和集成电路 2部分:整流二极管 IEC 60747-2:2016 6.1.8只测: -3kV~3kV,0~1MHz


西安长禾半导体技术有限公司
联系人 蒲经理
微信
手机 򈊡򈊧򈊧򈊩򈊢򈊥򈊧򈊤򈊠򈊧򈊠 邮箱 xachpc@163.com
传真 地址 陕西省西安市高新区锦业路69号创新商务公寓
主营产品 元器件制造销售检测,技术服务,检测测试,技术推广转让 网址 http://chbdt123.b2b.huangye88.com/
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